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二维压电纳米台 ║P114XZS
-
运动轴X,Z
-
传感器类型SGS 电阻应变片式
-
标称行程400μm
-
结构类型机构放大式串联结构
产品参数
研生提供高精度的CAP电容传感器版本纳米定位台,
也提供低成本的SGS电阻应变片版本的纳米定位台。
传感器类型 |
SGS 电阻应变片
|
CAP 电容式 |
测量方式 |
间接测量,误差大
|
直接测量,精准 |
定位精度 |
0.03%F.S. ~ 0.05%F.S.
以行程100μm为例,
重复精度:30~50nm
|
0.001%F.S. ~ 0.002%F.S.
以行程100μm为例,
重复精度可达:±1nm |
压电纳米台 ║P114XZS是采用压电陶瓷驱动的二维压电纳米定位台,压电纳米台内部使用无摩擦及空回的柔性铰链导向机构,采用有限元仿真分析优化柔性铰链结构,柔性导向系统具有超高的导向精度,且具有高刚性、高负载、无磨损、免维护等特点,压电平台内置精密位移传感器进行全闭环的位置反馈,确保了压电平台具有极佳的运动控制精度,定位精度、分辨率和稳定性可以达到纳米量级,定位稳定时间仅为毫秒量级。压电陶瓷纳米定位台为无磁材质,使用过程中不产生磁场同时也不受磁场的影响。平台特点体积小、结构紧凑、易于集成。
内置高性能压电陶瓷促动器具有超长使用寿命
压电陶瓷促动器由环氧脂质涂层包裹,具有优异的防潮特性,避免漏电流增大造成故障,可实现无故障运行1000亿个循环。
零间隙无摩擦柔性铰链导向带来高导向精度
柔性铰链导向无需维护、无摩擦、无磨损,无需润滑。它们的刚性可实现高负载能力,且它们对冲击和振动不敏感。
◆ 价格实惠的紧凑型定位系统; ◆ 可提供更小外形尺寸版本; ◆ 无摩擦柔性铰链导向可实现极高的运动精度; ◆ 高性能压电陶瓷促动器带来超长使用寿命; ◆ 内置精密位移传感器进行全闭环位置反馈,开/闭环可供选择。 |
● 纳米定位 ● 干涉测量 ● 纳米定位 ● 生物技术 ● 测试应用 ● 半导体技术 ● 光纤定位 ● 微加工 ● 测试程序和质量保证 |
半导体技术 | |
---|---|
随着光刻工艺的发展,如今的芯片变得越来越小,硅晶片上也出现了极为精细的结构。原子力显微镜(AFM)可实现原子级的高分辨率表面测量,为半导体制造领域带来了全新的检测方法。压电陶瓷驱动器凭借出众的性能及可靠性为这些技术进步做出了贡献。
现代电子芯片架构已经缩小到纳米级,在半导体工业生产中基于品质控制及高精度测量的要求,压电驱动器可提供:
|
|
型号 |
P111XZS |
P112XZS |
P114XZS |
单位 |
公差 |
主动轴 |
X,Z |
X,Z |
X,Z |
- |
- |
运动和定位 |
|
|
|
|
|
传感器类型 |
SGS 应变片 |
SGS 应变片 |
SGS 应变片 |
- |
- |
开环行程[-20V~+150V] |
120x120 |
250x250 |
500x500 |
μm |
±20% |
闭环行程[0V~+120V] |
100x100 |
200x200 |
400x400 |
μm |
±20% |
开环分辨率 |
0.6 |
1.3 |
2.5 |
nm |
typ. |
闭环分辨率[16bit DAC] |
1.6 |
3.1 |
6.2 |
nm |
typ. |
闭环线性度 |
0.05 |
0.05 |
0.05 |
%F.S. |
typ. |
重复定位精度 |
±5 |
±10 |
±20 |
nm |
typ. |
机械特性 |
|
|
|
|
|
运动方向刚度 |
0.6/0.8 |
0.5/0.6 |
0.2/0.2 |
N/μm |
±20% |
空载谐振频率 |
430/380 |
310/210 |
180/140 |
Hz |
±20% |
运动方向推/拉力 |
100/10 |
100/10 |
100/10 |
N |
Max. |
承载能力 |
10 |
7 |
5 |
N |
Max. |
其他 |
|
|
|
|
|
工作温度 |
-20~80 |
-20~80 |
-20~80 |
℃ |
- |
材质 |
铝,钢 |
铝,钢 |
铝,钢 |
- |
- |
外形尺寸 |
40x40x20 |
60x60x30 |
80x80x35 |
mm |
- |
重量 |
0.25 |
0.35 |
0.5 |
Kg |
±5% |
线缆长度 |
1.5 |
1.5 |
1.5 |
m |
±10mm |
连接器类型 |
LEMO│D-Sub9 |
LEMO│D-Sub9 |
LEMO│D-Sub9 |
- |
- |
注:最大驱动电压为-20V...+150V;对于高可靠的长期使用,建议驱动电压为0V...+120V。 |
❶ 基于无摩擦高精度柔性铰链运动导向的压电陶瓷纳米定位系统,系统分辨率仅受放大器噪声和测量技术的限制。开环分辨率为受系统放大器噪声限制所能达到的典型值。极低的系统定位噪声可获得满行程十万分之一以上的闭环分辨率。